WEKO3
アイテム
局所トンネル障壁高さに関する第一原理電子伝導計算による理論解析
https://doi.org/10.15006/32665B7186
https://doi.org/10.15006/32665B7186ea79d55b-180d-4b4c-9571-38d85d762102
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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論文の内容の要旨 (231.6 KB)
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論文審査の結果の要旨 (393.4 KB)
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論文 (9.9 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-07-10 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 局所トンネル障壁高さに関する第一原理電子伝導計算による理論解析 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 表面物性 | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 走査プローブ顕微鏡 | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 数値シミュレーション | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | Surface material | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | Scanning probe microscopy | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | Simulation | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.15006/32665B7186 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
| その他（別言語等）のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | Theoretical analysis of local tunneling barrier height by first-principle electron transport calculations | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 著者 |
戸塚,英臣
× 戸塚,英臣
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| 学位名 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 32665 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 学位授与機関名 | 日本大学 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2017-03-13 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 乙第7186号 | |||||||
